鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。

 

鍍層測厚儀是將X射線(xiàn)照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線(xiàn)的強度來(lái)。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒(méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線(xiàn)只有45-75W左右，所以不會(huì )對樣品造成損壞。同時(shí)，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。

 

應用領(lǐng)域：

 

線(xiàn)路板、引線(xiàn)框架及電子元器件接插件檢測

鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

手表、精密儀表制造行業(yè)

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB

汽車(chē)、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測

衛浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

電鍍液的金屬陽(yáng)離子檢測