鍍層測厚儀是一種用于測量金屬或其他材料表面鍍層厚度的儀器，廣泛應用于制造業(yè)、質(zhì)量檢測等領(lǐng)域。鍍層測厚儀通過(guò)不同的物理原理來(lái)測量涂層的厚度，常見(jiàn)的原理包括磁性感應原理、渦流原理和X射線(xiàn)熒光原理。磁性感應原理適用于測量非磁性涂層在磁性基材上的厚度，渦流原理適用于測量導電性涂層在導電性基材上的厚度，X射線(xiàn)熒光原理則通過(guò)測量被激發(fā)出的熒光X射線(xiàn)的能量和強度來(lái)確定鍍層的元素組成和厚度。
 

　　1、磁性感應原理：
 

　　利用從測頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測定覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。
 

　　適用于測量非磁性涂層在磁性基材上的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。
 

　　2、渦流原理：
 

　　當交變電流通過(guò)線(xiàn)圈時(shí)，會(huì )在導體中產(chǎn)生渦流。鍍層測厚儀的探頭發(fā)射交變電流，涂層中的渦流會(huì )對探頭產(chǎn)生影響，通過(guò)測量這種影響的變化，可以計算出涂層的厚度。
 

　　適用于測量導電性涂層在導電性基材上的厚度，如金屬涂層、電鍍層等。
 

　　3、X射線(xiàn)熒光原理：
 

　　通過(guò)向被測物體表面發(fā)射X射線(xiàn)，激發(fā)其表面元素產(chǎn)生熒光信號，然后通過(guò)探測器收集反射回來(lái)的熒光信號，經(jīng)過(guò)智能軟件算法推算出鍍層的厚度。
 

　　具有測量精確、速度快、操作簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn)，特別適用于檢測難度大的微小樣品。
 

　　全面升級XD-1000全自動(dòng)智能X熒光光譜測厚儀，對各類(lèi)鍍層厚度分析的同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點(diǎn)測試或自動(dòng)逐個(gè)檢測大量的小部件，如線(xiàn)路?板、引線(xiàn)支架、衛浴產(chǎn)品等。搭載四焦技術(shù)，人機交互全面優(yōu)化，操作更加方便快捷。