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+XTU-BL X熒光光譜儀是一款設計結構緊湊,模塊精密化程度*的鍍層測厚儀,采用了下照式C型腔體設計,不但可以測量各種微小樣品,即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量,是一款測量涂鍍層成分及厚度性?xún)r(jià)比高、適用性強的機型。 測量面積:最小0.002mm²鍍層分析:23層鍍層24種元素儀器特點(diǎn):可手動(dòng)變焦儀器優(yōu)勢:同元素不同層分析
XTU-50B X射線(xiàn)熒光譜儀 XTU系列測厚儀雖然結構緊湊,但是都有大容量的開(kāi)槽設計樣品腔,即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測試。 搭配微聚焦射線(xiàn)管和*光路設計,以及變焦算法裝置,可測試極微小和異形樣品。 檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測量面積0.002mm2·深凹槽可達90mm。
出租出售X-RAY測厚儀 XTU系列測厚儀雖然結構緊湊,但是都有大容量的開(kāi)槽設計樣品腔,即使超過(guò)樣品腔尺寸的工件也可以測試。 搭配微聚焦射線(xiàn)管和*光路設計,以及變焦算法裝置,可測試極微小和異形樣品。
一款高精密的微型多線(xiàn)咬合的高精密滑軌,測厚儀高精密XY移動(dòng)平臺滑軌可用于X-RAY測厚儀的XY軸的位移控制,此滑軌使用多線(xiàn)齒輪結構從而使滑軌非常順滑和快速同步,滑軌精工細作,操作流暢,精準度高,調節速度快,樣品直接放置在平整的支撐臺上,或者定位精度更高的手動(dòng)X(jué)Y工作臺上。高精密的移動(dòng)平臺可以精準移動(dòng)定位0.01mm。