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描述:XAU-4CS化學(xué)鍍鎳/浸金(ENIG)系列光譜分析儀是一款專(zhuān)門(mén)為細小部件測量鍍層量身打造的精密儀器,擁有*高清CCD可以變焦配置,可以測試凹槽產(chǎn)品;擁有精密的瑞士移動(dòng)滑軌,可以精確定位任何小樣品的測試點(diǎn),方便快捷;擁有算法EFP法,不但使用了光譜發(fā)射法計算,同時(shí)也使用了光譜吸收法計算,即使是以往設備的難題,同一金屬鍍了兩層,我們也能精確測量。
廠(chǎng)商性質(zhì)
經(jīng)銷(xiāo)商更新時(shí)間
2025-05-18訪(fǎng)問(wèn)量
3096品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區間 | 10萬(wàn)-20萬(wàn) |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產(chǎn) | 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,電子/電池,電氣,綜合 |
產(chǎn)品介紹:
最近發(fā)布的IPC 4552-Rev。 給使用化學(xué)鍍鎳/ 浸金(ENIG)的PCB制造商帶來(lái)了挑戰。 特別是,新規格為適用于產(chǎn)品性能的黃金量設定了上限。 必須嚴密監控這種金厚度,并且*的測量方法是XRF厚度測試。 要準確測量這個(gè)新定義范圍內的金厚度,需要特定的XRF硬件,軟件和校準標準。
大多數PCB制造商已經(jīng)將XRF設備作為其質(zhì)量控制流程的一部分,但他們發(fā)現許多較老的儀器難以滿(mǎn)足新的IPC規范要求,并可能需要升級到最新的XRF技術(shù)。 一六儀器是國產(chǎn)儀器中可以保證所有XRF儀器都符合新的IPC 4552-A要求的公司。
XAU-4CS化學(xué)鍍鎳/浸金(ENIG)系列光譜分析儀是一款專(zhuān)門(mén)為細小部件測量鍍層及RoHS元素分析量身打造的精密儀器,擁有*高清CCD可以變焦配置,可以測試凹槽產(chǎn)品;擁有精密的瑞士移動(dòng)滑軌,可以精確定位任何小樣品的測試點(diǎn),方便快捷;擁有算法EFP法,不但使用了光譜發(fā)射法計算,同時(shí)也使用了光譜吸收法計算,即使是以往設備的難題,同一金屬鍍了兩層,我們也能精確測量。
XAU-4CS化學(xué)鍍鎳/浸金(ENIG)系列光譜分析儀性能優(yōu)勢:
1.微小樣品檢測:小測量面積0.03mm2(加長(cháng)測量時(shí)間可小至0.01mm2)。
2.變焦裝置算法:可改變測量距離測量凹凸異形樣品,變焦距離可達0-30mm。
3.*EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,多層多元 素,甚至有同種元素在不同層也可精準測量。
4.*解譜技術(shù):減少能量相近元素的干擾,降低檢出限。
5.高性能探測器:SDD硅漂移窗口面積25mm2探測器。
6.X射線(xiàn)裝置:微焦加強型射線(xiàn)管搭配聚焦裝置。
一六儀器研制的測厚儀的光路交換裝置,讓X射線(xiàn)和可見(jiàn)光攝像同一垂直線(xiàn),達到視覺(jué)與測試定位一體,且X光擴散度??;與EFP軟件配合達到對焦、變焦雙焦功能,實(shí)現高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試;高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,可以減少弧度傾斜放樣帶來(lái)的誤差,同時(shí)特征X射線(xiàn)可以穿透測試更厚的表層。
*EFP算法:
專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團隊在A(yíng)lpha和Fp法的基礎上,計算樣品中每個(gè)元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應、散射背景等多元優(yōu)化迭代開(kāi)發(fā)出EFP核心算法,結合*光路轉換技術(shù)、變焦結構設計及穩定的多道脈沖分析采集系統,只需要少量的標樣來(lái)校正儀器因子,可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。
RoHS檢測及標定:
產(chǎn)品分類(lèi)
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