熒光X射線(xiàn)鍍層測厚儀性能優(yōu)勢

快速

1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。

方便

熒光x射線(xiàn)測厚儀部分機型采用進(jìn)口國際上*電制冷半導體探測器，能量分辨率更優(yōu)于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類(lèi)的其他產(chǎn)品更低。

無(wú)損

測試前后，樣品無(wú)任何形式的變化。

直觀(guān)

實(shí)時(shí)譜圖，可直觀(guān)顯示元素含量。

測試范圍廣

熒光X射線(xiàn)鍍層測厚儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學(xué)結合狀態(tài)無(wú)關(guān)。對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測試從Na到U。

可靠性高

由于測試過(guò)程無(wú)人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。

滿(mǎn)足不同需求

測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監控儀器狀態(tài)，設定儀器參數，并就有多種*分析方法，工作曲線(xiàn)制作方法靈活多樣，方便滿(mǎn)足不同客戶(hù)不同樣品的測試需要。

性?xún)r(jià)比高：相比化學(xué)分析類(lèi)儀器，熒光x射線(xiàn)測厚儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和接受。

簡(jiǎn)易

對人員技術(shù)要求較低，操作簡(jiǎn)單方便,并且維護簡(jiǎn)單方便。

全自動(dòng)智能控制方式，一鍵式操作!

開(kāi)機自動(dòng)自檢、復位；

開(kāi)蓋自動(dòng)退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣；

關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動(dòng)完成對焦；

直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測試點(diǎn)；

點(diǎn)擊軟件界面測試按鈕，自動(dòng)完成測試并顯示結果。

熒光X射線(xiàn)鍍層測厚儀技術(shù)指標

產(chǎn)品名稱(chēng)：熒光X射線(xiàn)鍍層測厚儀

X/Y/Z平臺重復定位精度：小于0.1um

操作環(huán)境濕度：≤90%

操作環(huán)境溫度：15℃～30℃

分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）

同時(shí)檢測元素：多24個(gè)元素，多達5層鍍層

分析含量：一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度：一般在50μm以?xún)龋糠N材料有所不同）

SDD探測器：分辨率低至135eV

*微孔準直技術(shù)：小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm

樣品觀(guān)察：配備全景和局部?jì)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭

準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合

儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm

X/Y/Z平臺移動(dòng)速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

部分產(chǎn)品

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