XRF鍍層膜厚測試儀性能特點(diǎn)

 定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊

鼠標可控制移動(dòng)平臺，鼠標點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線(xiàn)屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿(mǎn)足微小測試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺可定位測試點(diǎn)，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測試高度

標準配置

開(kāi)放式樣品腔，滿(mǎn)足大樣品測試
精密二維移動(dòng)樣品平臺，探測器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機（可以保存和實(shí)時(shí)打?。?/span>

XRF鍍層膜厚測試儀技術(shù)指標

多變量非線(xiàn)性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
型號：XAU

 XRF鍍層膜厚測試儀
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以?xún)龋糠N材料有所不同）
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀(guān)尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

應用領(lǐng)域

XRF膜厚測試儀應用于金屬鍍層的厚度（鍍銀、鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍鉻、鍍鈀等）測量、電鍍液和鍍層含量的測定,端子連接器、LED、半導體、衛浴潔具、PCB、電子電器、氣配五金、珠寶首飾、汽車(chē)配件、制冷設備、檢測機構以及研究所和高等院校等衛浴等行業(yè)。