電鍍廠(chǎng)用測厚儀產(chǎn)品性能

有些膜厚儀采用了磁性測厚法,是一種超小型測量?jì)x,它能快速,無(wú)損傷,地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的噴涂.電鍍層厚度的測量.可廣泛用于制造業(yè),金屬加工業(yè),化工業(yè),商檢等檢測領(lǐng)域.特別適用于工程現場(chǎng)測量.

有些膜厚儀采用二次熒光法,它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線(xiàn)或粒子射線(xiàn)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態(tài)。從不穩定狀態(tài)要回到穩定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線(xiàn)鍍層厚度測量?jì)x或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。

電鍍廠(chǎng)用測厚儀選擇條件

在生產(chǎn)過(guò)程中如何選擇膜厚儀呢?

首先取決于你所測產(chǎn)品的結構.如果只是簡(jiǎn)單的涂層,銅箔使用普通的膜厚儀就可以解決了.如銅箔測厚儀,涂層測厚儀.

如果測量多層金屬鍍層，目前*方式：X-ray鍍層測量法原理：

X射線(xiàn)和紫外線(xiàn)與紅外線(xiàn)一樣是一種電磁波?？梢暪饩€(xiàn)的波長(cháng)為0.000001 m （1μm）左右,X射線(xiàn)比其短為0.1m至0. m (0.01- 100 ?)左右。

對某物質(zhì)進(jìn)行X射線(xiàn)照射時(shí),可以觀(guān)測到主要以下3種X射線(xiàn)。

（1） 熒光X射線(xiàn)

（2） 散亂X射線(xiàn)

（3） 透過(guò)X射線(xiàn)

的產(chǎn)品是利用熒光X射線(xiàn)得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的熒光X射線(xiàn)法原理。和熒光X射線(xiàn)分析裝置一樣被使用的X射線(xiàn)衍射裝置是利用散亂X射線(xiàn)得到物質(zhì)的結晶信息(構造)。而透過(guò)X射線(xiàn)多用于拍攝醫學(xué)透視照片。另外也用于機場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據想得到的物質(zhì)信息而定X射線(xiàn)的種類(lèi)。

簡(jiǎn)單地說(shuō)螢光X射線(xiàn)裝置(XRF)和X射線(xiàn)衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線(xiàn)裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息（物質(zhì)構成,組成和鍍層厚度）,X射線(xiàn)衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結晶信息。

具體地說(shuō),比如用不同的裝置測定食鹽(氯化鈉=NaCl)時(shí),從螢光X射線(xiàn)裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構成,而從X射線(xiàn)衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結晶構成。單純地看也許會(huì )認為能知道結晶狀態(tài)的X射線(xiàn)衍射裝置(XRD為好,但當測定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線(xiàn)裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性。

X射線(xiàn)裝置大致可分為以下2種產(chǎn)品。

管理表面鍍層鍍層厚度測定的SFT系列（熒光X射線(xiàn)鍍層厚度測定儀）

分析材料組成(濃度)的SEA系列（熒光X射線(xiàn)分析儀）

鍍層厚度測量?jì)x的代名詞。

隨著(zhù)市場(chǎng)競爭的愈加激烈及產(chǎn)品更新?lián)Q代的加快，客戶(hù)需求也日新月異。為了迎接新世紀的挑戰，

*可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。

*可通過(guò)CCD攝像機來(lái)觀(guān)察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。

*薄膜FP法軟件是標準配置，可同時(shí)對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量。此外，適用于無(wú)鉛焊錫的應用。

*備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時(shí)所需的標準樣品。

XD-1000測厚儀是一款X射線(xiàn)熒光光譜儀，致力于金屬電鍍層的厚度測量，測量精度達到5%以?xún)?，薄測試0.005微米，*可以滿(mǎn)足企業(yè)的測試要求。