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型號：XD-1000

X光無(wú)損測厚儀

描述：X光無(wú)損測厚儀主要用于檢測金屬電鍍層厚度（如鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍鈀……）；在企業(yè)品質(zhì)檢測、來(lái)料管控方面，得到廣泛的應用。X光無(wú)損測厚儀是專(zhuān)業(yè)測試電鍍層厚度的，喬邦儀器銷(xiāo)售的鍍層測厚儀；儀器采用上照式結構，測試，軟件界面簡(jiǎn)潔，測試樣品用時(shí)40S，售后服務(wù)可靠及時(shí)。

  • 廠(chǎng)商性質(zhì)

    經(jīng)銷(xiāo)商

  • 更新時(shí)間

    2025-05-19

  • 訪(fǎng)問(wèn)量

    1087
詳細介紹
品牌其他品牌價(jià)格區間面議
產(chǎn)地類(lèi)別國產(chǎn)應用領(lǐng)域醫療衛生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷

鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：

1、光學(xué)顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射線(xiàn)法）。適用標準為：GB/T16921-2005

3、庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005

 

X光無(wú)損測厚儀原理

 

產(chǎn)生X射線(xiàn)的簡(jiǎn)單方法是用加速后的電子撞擊金屬靶。撞擊過(guò)程中，電子突然減速，其損失的動(dòng)能（其中的1%）會(huì )以光子形式放出，形成X光光譜的連續部分，稱(chēng)之為制動(dòng)輻射。通過(guò)加大加速電壓，電子攜帶的能量增大，則有可能將金屬原子的內層電子撞出。于是內層形成空穴，外層電子躍遷回內層填補空穴，同時(shí)放出波長(cháng)在0.1納米左右的光子。由于外層電子躍遷放出的能量是量子化的，所以放出的光子的波長(cháng)也集中在某些部分，形成了X光譜中的特征線(xiàn)，此稱(chēng)為特性輻射。

 

X光無(wú)損測厚儀測量標準

 

1.國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線(xiàn)光譜方法

 2.美國標準A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence


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