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型號:XU-100

鋁合金鍍鋅鎳合金測厚儀

描述:鋁合金鍍鋅鎳合金測厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線(xiàn)打到被測樣品時(shí)可以擊出原子的內層電子,出現殼層空穴,當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來(lái)填充軌道空穴時(shí),就會(huì )產(chǎn)生特征X射線(xiàn)。X射線(xiàn)探測器將樣品元素的X射線(xiàn)的特征譜線(xiàn)的光信號轉換成易于測量的電信號來(lái)得到待測元素的特征信息。

  • 廠(chǎng)商性質(zhì)

    經(jīng)銷(xiāo)商
  • 更新時(shí)間

    2025-05-19
  • 訪(fǎng)問(wèn)量

    893
詳細介紹
品牌其他品牌價(jià)格區間面議
產(chǎn)地類(lèi)別國產(chǎn)應用領(lǐng)域醫療衛生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷

分析原理

 

鋁合金鍍鋅鎳合金測厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線(xiàn)打到被測樣品時(shí)可以擊出原子的內層電子,出現殼層空穴,當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來(lái)填充軌道空穴時(shí),就會(huì )產(chǎn)生特征X射線(xiàn)。X射線(xiàn)探測器將樣品元素的X射線(xiàn)的特征譜線(xiàn)的光信號轉換成易于測量的電信號來(lái)得到待測元素的特征信息。

 鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法:

1、光學(xué)顯微鏡法。適用標準為:GB/T6462-2005

2、X-ray法(X射線(xiàn)法)。適用標準為:GB/T16921-2005

3、庫侖法,此法一般為仲裁方法。適用標準為:GB/T4955-2005

 

鋁合金鍍鋅鎳合金測厚儀性能特點(diǎn)    

                                   

1. 長(cháng)效穩定X銅光管;

2.半導體硅片電制冷探測器,摒棄元素識別能力較弱的計數盒;

3.內置研發(fā)部研發(fā)的—信噪比增強器(SNE)與MCA多道分析器;

4.內置高清晰攝像頭,方便用戶(hù)隨時(shí)觀(guān)測樣品;

5.脈沖處理器,數據處理快速準確;

6.手動(dòng)開(kāi)關(guān)樣品腔,操作安全方便;

7.三重安全保護模式;

8.整體鋼架結構、外型簡(jiǎn)潔;

9.FP軟件,無(wú)標準樣品時(shí)亦可測量。

質(zhì)量保證、技術(shù)服務(wù)

1.儀器進(jìn)行終身維修;

2.軟件免費升級:如有軟件升級,乙方將免費提供軟件升級,不再收取升級費用;

 

測量標準

 

1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000

 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線(xiàn)光譜方法

2.美國標準A754/A754M-08

Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

樣品測試步驟

1)              每天開(kāi)機預熱30分鐘后打開(kāi)測試軟件“FpThick":

用戶(hù)使用“Administrator",密碼:skyray

2)              進(jìn)入測試軟件后,選擇“測試條件"

點(diǎn)擊“確定",即測試條件確定(儀器已設置好)

3)              選擇“工作曲線(xiàn)"

如待測樣品是鐵鍍鎳,則選擇Ni-Fe;其他依次類(lèi)推

4)              放入“Ag片"對儀器進(jìn)行初始化

初始化完成后,(峰通道為1105,計數率達到一定的數,如300以上)。

5)              待測樣品測試

放入待測的樣品,通過(guò)攝像頭畫(huà)面觀(guān)察當前放入的樣品的表面情況,以及儀器的X射線(xiàn)的聚焦點(diǎn)??梢酝ㄟ^(guò)軟件提供的十字坐標(也稱(chēng)十字光標)來(lái)定位該聚焦點(diǎn),將樣品放在聚焦點(diǎn)位置。點(diǎn)擊“開(kāi)始",輸入樣品名稱(chēng)后“確定"。

6)              測試完成后即可保持報告,報告的位置可以在桌面的“分析報告"快捷方式中的“鍍層報告"中找到。

注意:測試鍍層樣品時(shí),必須先要確定是什么鍍層、選擇好對應的工作曲線(xiàn)測試。


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