鍍銀層測厚儀XD-1000應用領(lǐng)域

鐵基----□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，□Fe/Cu/Ni/Cr，        
  □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag銅基----□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr鋅基----□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au鎂鋁合金----□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au塑膠基體----plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr

性能特點(diǎn)

鍍銀層測厚儀采用下照式：適合平面樣品的鍍層測試需求；準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿(mǎn)足不同樣品材質(zhì)和形狀的檢測；移動(dòng)平臺：精細的手動(dòng)移動(dòng)平臺，方便定位測試點(diǎn)；高分辨率探測器：提高分析的準確性；新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達100W的功率實(shí)現更高的測試效率。

鍍銀層測厚儀XD-1000技術(shù)參數  

1   分析元素范圍：S-U

2   同時(shí)可分析多達3層以上鍍層

3   分析厚度檢出限達0.01μm

4   多次測量重復性可達0.05μm

5   定位精度：0.5mm5   測量時(shí)間：30s-300s

6   計數率：1300-8000cps

7 儀器適合測試平面。以單層Fe鍍Ni的標樣為例，分析的范圍是0.01—30um，在這個(gè)范圍內，才能檢測。0.5-10um的，偏差是5%，就是說(shuō)真值是1um，用儀器測試的值是0.95-1.05um。