X光測厚儀XD-1000性能優(yōu)勢

可靠性高：

由于測試過(guò)程無(wú)人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。

滿(mǎn)足不同需求：

測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監控儀器狀態(tài)，設定儀器參數，并就有多種*分析方法，工作曲線(xiàn)制作方法靈活多樣，方便滿(mǎn)足不同客戶(hù)不同樣品的測試需要。

快速：

1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。

無(wú)損：

測試前后，樣品無(wú)任何形式的變化。

直觀(guān)：

實(shí)時(shí)譜圖，可直觀(guān)顯示產(chǎn)品測試點(diǎn)

簡(jiǎn)易：

對人員技術(shù)要求較低，操作簡(jiǎn)單方便,并且維護簡(jiǎn)單方便。

性?xún)r(jià)比高：

相比其他類(lèi)類(lèi)儀器，X光測厚儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和接受。

X光測厚儀XD-1000 技術(shù)參數

相互獨立的基體效應校正模型

多變量非線(xiàn)性回收程序

長(cháng)期工作穩定性高

度適應范圍為15℃至30℃

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層

一次可同時(shí)分析多達五層鍍層

薄可測試0.005μm

分析含量一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度一般在50μm以?xún)龋糠N材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源

儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm