影響膜厚儀準確度的因素有以下幾種：

1.曲率：不應在試件的彎曲表面上測量。

2.讀數次數：通常由于x熒光鍍層膜厚測厚儀的每次讀數并不*相同，因此必須在每一測量面積內取幾個(gè)讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進(jìn)行多次測量，表面粗造時(shí)更應如此。

3.基體金屬特性：對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙4.度相似；對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

5.表面清潔度：測量前，應清除表面上的任何附著(zhù)物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

6.基體金屬厚度：檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，無(wú)損檢測資源網(wǎng)如果沒(méi)有，可采用其他方法進(jìn)行校準。

7.邊緣效應：不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進(jìn)行測量。

X熒光鍍層膜厚測厚儀性能特點(diǎn)

滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿(mǎn)足微小測試點(diǎn)的需求

高精度移動(dòng)平臺可定位測試點(diǎn)，重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊

鼠標可控制移動(dòng)平臺，鼠標點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線(xiàn)屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

X熒光鍍層膜厚測厚儀技術(shù)指標

型號：xu-100

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以?xún)龋糠N材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體效應校正模型。

多變量非線(xiàn)性回收程序

度適應范圍為15℃至30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。

外觀(guān)尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：30kg

標準配置

開(kāi)放式樣品腔。

精密二維移動(dòng)樣品平臺，探測器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現三維移動(dòng)。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護傳感器

計算機及噴墨打印機