儀器簡(jiǎn)介：

XD鍍層測厚儀是一款專(zhuān)用于檢測各種異形件，特別適用于五金類(lèi)模具、衛浴產(chǎn)品、線(xiàn)路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。

該系列儀器不但可以應對平面、微小樣品的檢測，在面對凹槽曲面深度0-90mm以?xún)鹊漠愋渭邆渚薮蟮膬?yōu)勢。

被廣泛用于各類(lèi)產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

• *EFP算法：多層多元素、各種元素及有機物，甚至有同種元素在不同層也可精準測量

• 上照式設計：實(shí)現可對超大工件進(jìn)行快、準、穩高效率測量

• 自動(dòng)對焦：高低大小樣品可快速清晰對焦

• 變焦裝置算法：可對0-90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測

• 小面積測量：最小測量面積0.002mm2

• 可編程自動(dòng)位移：選配自動(dòng)平臺，X210*Y230*Z145mm行程內無(wú)人值守自動(dòng)測量

廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。

X熒光光譜測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線(xiàn)照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì )發(fā)射出各自的特征X射線(xiàn)，不同的元素有不同的特征X射線(xiàn)；探測器探測到這些特征X射線(xiàn)后，將其光信號轉變?yōu)槟M電信號；經(jīng)過(guò)模擬數字變換器將模擬電信號轉換為數字信號并送入計算機進(jìn)行處理；計算機的特殊應用軟件根據獲取的譜峰信息，通過(guò)數據處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類(lèi)及各元素的鍍層厚度。

它能檢測出常見(jiàn)金屬鍍層厚度，無(wú)需樣品預處理；分析時(shí)間短，僅為數十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動(dòng)態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。

復雜零件鍍層測厚儀技術(shù)指標

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以?xún)龋糠N材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體效應校正模型。

多變量非線(xiàn)性回收程序

度適應范圍為15℃至30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。

外觀(guān)尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：100kg

復雜零件鍍層測厚儀性能介紹

設計科學(xué)，安全穩定

在設備整體設計上打破了傳統測厚儀設計模式，機體結構設計科學(xué)，更多的添加了人性化設計元素.

操作方便，工作效率高

采用軟硬件相配合的方式，通過(guò)機電聯(lián)動(dòng)實(shí)現高效的運轉，提升厚度測量時(shí)效，畢竟這種設備主要被使用在鍍層生產(chǎn)企業(yè)，在使用中勢必要滿(mǎn)足生產(chǎn)需求。

精準度高，誤差率低

電鍍膜厚測量?jì)x在使用中，不僅工作效率快，測量方便，另外測量數據同時(shí)也非常精準，這一點(diǎn)離不開(kāi)設備所采用的X射線(xiàn)熒光檢測技術(shù)，利用X射線(xiàn)穿透被測物，通過(guò)射線(xiàn)穿透的時(shí)間確定被測物的厚度，這種測量方式可對大批量物體實(shí)現質(zhì)量(厚度)檢測，保證被測物在檢測過(guò)程中不會(huì )有任何的損傷，測量誤差率非常低，正是因為這種性能，使得電鍍測量?jì)x被廣泛使用在半導體生產(chǎn)行業(yè);

標準配置

開(kāi)放式樣品腔。

精密二維移動(dòng)樣品平臺，探測器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現三維移動(dòng)。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

高度傳感器

保護傳感器

計算機及噴墨打印機