鍍層xrf儀器性能特點(diǎn)

滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿(mǎn)足微小測試點(diǎn)的需求

高精度移動(dòng)平臺可定位測試點(diǎn)，重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊

鼠標可控制移動(dòng)平臺，鼠標點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線(xiàn)屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

鍍層xrf儀器技術(shù)指標

型號：XD-1000

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。 

同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以?xún)龋糠N材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體效應校正模型。

多變量非線(xiàn)性回收程序

度適應范圍為15℃至30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。 

外觀(guān)尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

標準配置

開(kāi)放式樣品腔。

精密二維移動(dòng)樣品平臺，探測器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現三維移動(dòng)。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。 

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護傳感器

計算機及噴墨打印機

部分產(chǎn)品

電鍍層測厚儀，x射線(xiàn)熒光鍍層測厚儀，鍍鎳無(wú)損電鍍測厚儀，鍍金層X(jué)射線(xiàn)無(wú)損測厚儀，金屬鍍層ROHS檢測儀，led支架鍍銀層測厚儀，國產(chǎn)鍍層測厚儀，X熒光鍍層測厚儀，國產(chǎn)X熒光鍍層測厚儀，x光鍍層測厚儀，X射線(xiàn)鍍層測厚儀價(jià)格，鍍層測厚儀，化金厚度檢測儀，X射線(xiàn)鍍層測厚儀，X光電鍍層測厚儀，X熒光鍍層測厚儀品牌，鍍層測厚儀

應用領(lǐng)域

鍍層X(jué)RF儀器廣泛應用于線(xiàn)路板、電子連接器、電子電器、螺栓和螺母、衛浴、五金端子板材、表面處理材料、汽車(chē)配件、五金工具、彈簧、螺絲、半導體封裝材料等產(chǎn)品。

x射線(xiàn)熒光電鍍層測厚儀產(chǎn)品規格

樣品腔尺寸：306mm×260mm

計數率:0-10000cps

長(cháng)效穩定X銅光管

脈沖處理器，數據處理快速準確

手動(dòng)開(kāi)關(guān)樣品腔，操作安全方便

x射線(xiàn)熒光電鍍層測厚儀三重安全保護模式

整體鋼架結構、外型高貴時(shí)尚

FP軟件，無(wú)標準樣品時(shí)亦可測量

半導體硅片電制冷系統，摒棄液氮制冷

信噪比增強器（SNE）

內置高清晰攝像頭，方便用戶(hù)隨時(shí)觀(guān)測樣品

應用領(lǐng)域

電阻電容、螺栓、螺母、彈簧類(lèi)緊固件、PCB、FPC、LED、SMD、連接器、高壓開(kāi)關(guān)、天線(xiàn)、半導體、五金衛浴、汽車(chē)零部件、功能性電鍍件、珠寶、首飾、裝飾品、合金等。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

x射線(xiàn)熒光電鍍層測厚儀是專(zhuān)業(yè)測試金屬電鍍層厚度的檢測儀器，主要測試鍍金、鍍銀、鍍銠、鍍鈀、鍍鎳、鍍銅、鍍鋅、鍍錫等，是一款對產(chǎn)品無(wú)損傷設備，測試時(shí)間只需要5-40S（跟進(jìn)產(chǎn)品不同略有差異)

*


x射線(xiàn)熒光電鍍層測厚儀是天瑞儀器自主研發(fā)生產(chǎn)的一款高性?xún)r(jià)比產(chǎn)品，公司在省會(huì )城市基本設有售后服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)，滿(mǎn)足各個(gè)省份企業(yè)的售后服務(wù)及時(shí)快速，質(zhì)量保證期限內相關(guān)費用全免，軟件*升級。

參數規格

(1)   X光管                      

(2) Si-PIN電制冷半導體探測器

(3) 放大電路                  

(4)高清晰攝像頭

(5) 高壓系統                  

(6) 單樣品腔

訂購說(shuō)明

環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

環(huán)境相對濕度：<70%

工作電源：交流220±5V

周?chē)荒苡袕婋姶鸥蓴_。

x射線(xiàn)熒光電鍍層測厚儀產(chǎn)品優(yōu)勢

分析元素范圍：K-U

x射線(xiàn)熒光電鍍層測厚儀同時(shí)可分析多達5層鍍層

分析厚度檢出限達0.005μm

高壓：5kV-50kV

管流：50μA-1000μA

測量時(shí)間：5s-300s